Serveis
El Centre DIOPMA col·labora amb les empreses buscant solucions a cada problemàtica particular, oferint els següents serveis:
• Disseny i caracterització de materials metàl·lics, ceràmics, polimèrics i compostos.
- Recerca de nous materials.
- Assaigs mecànics a escala macro, micro i nanométrica.
- Caracterització estructural
- Caracterització física i química.
• Projectes de Recerca, Desenvolupament i innovació tecnològica (I+D+i).
- Recerca fonamental, aplicada, desenvolupament i innovació.
- Transferència de tecnologia.
- Projectes competitius.
• Estudis bibliogràfics sobre patents i normatives.
• Assessoria i consultoria tècnica.
• Formació especialitzada a empreses.
TÈCNIQUES UTILITZADES DISPONIBLES Centre DIOPMA
• Caracterització de propietats mecàniques.
- Assajos de tracció/compressió.
- Assajos de flexió.
- Assajos de duresa (escala macro, micro i nanomètrica).
• Altres
- Forns d’inducció.
- Termobalança per anàlisi gravimètrica (TGA).
- Determinació de la demanda química del oxigen (DQO).
- Determinació d’humitat.
- Determinació del pH.
- Conductímetre.
- Lixiviador.
- Floculador.
- Bany termostatitzat.
- Espectrofotòmetre UV-VIS.
- Determinació de l’Índex d’oxigen (LOI) d’acord amb les normes ASTM D 2863 (1970) o ISO 4589(1984).
- Nonoindentador con modulo de medida de la rigidez en continuo (Noano Indenter XP con CSM).
- Reómetro Brookfield.
- FT-IR.
- Termociclador.
TÈCNIQUES UTILITZADES DISPONIBLES Serveis Científico-Tècnics (UB)
• Tècniques d’anàlisi elemental i molecular.
- Absorció atòmica.
- Cromatografia de gases.
- Cromatografia de líquids i electroforesis capil·lar.
- Fluorescència de rajos X.
- ICP-MS I ICP-OES.
- Cromatografia de permeabilitat de gel (GPC).
- Cromatografia de exclusió de tamany (SEC).
- Anàlisis de residus i aigües.
• Tècniques d’anàlisi i caracterització de superfícies.
- Espectrometria de fotoelectrons (ESCA o XPS).
- Espectrometria d’ electrons Auger (SAM).
- Microscòpia electrònica de rastreig (SEM).
- Microscòpia electrònica de transmissió (TEM).
- Microscòpia electrònica de alta resolució.
- Microsonda electrònica.
- Microscòpia cofocal.
- Superfície específica (BET).
- Granulometria (tamany de partícula).
• Tècniques nanomètriques
- Microscòpia de forces atòmiques (AFM).
- Microscòpia d’efecte túnel (STM).
- Perfilometria interferomètrica.
• Tècniques de caracterització de materials.
- Difracció de raigs X.
- Caracterització de las propietats magnètiques.
- Magnetómetre SQUID.
• Altres.
- Anàlisis i tractament d’imatges