Enric Bertran Professor Departament de Física Aplicada i Òptica c/ Martí i Franquès, 1 08028 Barcelona
Tel.: 34 934021135 Fax: 34 934039219
Webmaster
In situ spectroellipsometric study of the nucleation and growth of amorphous silicon. A.Canillas et al. J. Appl. Phts 68 (1990) 2752.
