El Grup de Física i Enginyeria de Materials Amorfs i Nanoestructures (FEMAN) centra la seva activitat en la producció i caracterització de materials amorfs i sub-cristal·lins en capa prima, en pols nanomètrica i capes nanoestructurades resultants de l'aplicació de tècniques de dipòsit en buit, com són el dipòsit químic en fase vapor per plasma (PECVD), la polvorització catòdica DC i RF magnetró, i les tècniques basades en feixos iònics com els tractaments per bombardeig iònic i la polvorització assistida per feix iònic. L'objectiu d'atenció preferent és adquirir una experiència basada en la recerca experimental d'aquests materials, els quals presenten un gran interès en diverses aplicacions en els camps de la Mecànica, Òptica i Electrònica, en Nanociència i Nanotecnologia de Materials, com ceràmiques avançades nanoestructurades, recobriments durs, membranes d'ultrafiltració ,òxids dielèctrics, materials electrocròmics, recobriments òptics i conductors iònics. Els materials nanoestucturats més estudiats pel Grup són: el silici, el carboni i el carboni tipus diamant, també s'han estudiat els compostos binaris: carbur de silici, nitrur i oxinitrur de silici, nitrur de bor i els aliatges carboni-nitrogen i els compostos ternaris com el bor-carboni-nitrogen. També s'han estudiat diversos òxids de metalls de transició (W, Ta, Ni, V, Mo) per a possible aplicació a sensors i a electrocromisme. Darrerament s'han fet molts estudis sobre sistemes multicapa de dimensions nanomètriques per tal d'estudiar les seves propietats físiques i estructurals. Entre les tècniques de caracterització més utilitzades, hi ha les estructurals i composicionals, com TEM, SEM, HRTEM, SIMS, XPS, XRD, FTIR, Raman, PL, EA, SAED, AFM; les tècniques de caracterització òptica i optoelectrònica, com transmitància òptica, el·lipsometria UV-VIS, el·lipsometria de transformada de Fourier a l'IR, anàlisi espectral multicanal (OMA) i diverses tècniques de caracterització, com mesures de conductivitat elèctrica i efecte Hall, espectroscòpia d'impedància, mesures de conductivitat iònica, cronoamperometria i voltametria. Les activitats del Grup en el camp dels materials nanoestucturats s'estenen també cap a la diagnosi de plasmes de baixa temperatura utilitzats per al dipòsit d'aquests materials, com la sonda de Langmuir, espectrometria de masses quadrupolar, espectroscòpia d'emissió òptica de plasmes, mesura d'energia dels ions, sondes elèctriques de mesura de la impedància del plasma i analitzador de partícules per el·lipsometria de la llum dispersada. |
