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Grupo de Capas Finas e Ingeniería de Superficies Imatge de diagramació
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Equipamiento

 marcador cercle Equipos de preparación de capas finas y tratamientos de superficie mediante:

  • Depósito de multicapas por evaporación con dos cañones de electrones.
  • Depósito por pulverización catódica magnetrón.
  • Depósito por arco catódico.
  • Depósito por ablación con láser pulsado.
  • Depósito de biomoléculas por transferencia inducida por láser.
  • Depósito químico en fase vapor con plasma de microondas.
  • Depósito químico en fase vapor por polimerización con plasma.
  • Tratamientos de superficie con plasma.
  • Tratamientos de superficie, marcado y microfabricación con láser.
  • Ablación con láser con intensificador y analizador de imágenes y espectrógrafo.
  • Láseres pulsados de ns (1064, 532, 355 y 266 nm) y de fs (1030 nm)

 marcador cercle Equipos de caracterización de materiales mediante:

  • Microscopia de fuerzas atómicas (AFM).
  • Perfilometría y rugosidad superficial.
  • Nanoindentación y prueba de rayado.
  • Ensayos de desgaste.
  • Espectrofotometría FTIR.
  • Espectrometría de desorción térmica.
  • Espectroscopia de emisión óptica.
  • Microscopia óptica de fluorescencia.

 marcador cercle Y en los servicios generales de la Universidad:

  • Microscopias electrónicas de barrido y de transmisión.
  • Microsondas electrónicas EDX y WDX.
  • Difractometrías de rayos X y de electrones.
  • Espectroscopia de fluorescencia de rayos X.
  • Espectroscopia Raman.
  • Espectroscopia de fotoelectrones XPS.
  • Espectroscopia Auger de barrido.
  • Espectrometría de masas de iones secundarios.
 
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  © Universitat de Barcelona Edició: Departament Física Aplicada i Òptica
Última actualització o validació:01.02.2011