Imatge de diagramació Imatge de diagramació Imatge de diagramació Imatge de diagramació
Logo Universitat de Barcelona Màster en Enginyeria Física Imatge de diagramació
  Inici Màster Inici Facultat Inici Universitat Imatge de diagramació
Imatge de diagramació
  Español English
Imatge de diagramació
Imatge de diagramació Imatge de diagramació Imatge de diagramació Imatge de diagramació
Imatge de diagramació
Índex
Presentació
Estructura
Pla d'estudis
Assignatures
Professorat
Tesi de màster
Sortides professionals
Preinscripció
Admissió
Matrícula
Horaris
Coordinació
Contacte
 
Icona d'informació Per a més informació:

Dr. José-Luis Morenza
Universitat de Barcelona
Departament de Física Aplicada i Òptica
Carrer Martí i Franquès 1
E-08028 Barcelona
Tel. 934 021 136
mef@ub.edu

Imatge de diagramació    
 

Horaris


SEMESTRE DE TARDOR

Període de classes : 17-9-2008 a 19-12-2008


 

Dilluns

Dimarts

Dimecres

Dijous

Divendres

9:00- 9:50

TEMINANO

TEMINANO

 

10:00-10:50

TEMINANO

  

TEMINANO

 

11:00-11:50

SiAMI  

 

TECARELO

 

TECMICRO

12:00-12:50

SiAMI  

TECARELO

 

TECMICRO

 

9:30-10:20

FOT

FOT

FOT

 

FOT

10:50-11:40

INSFIS/CEE

INSFIS

INSFIS/CEE

 

INSFIS

11:50-12:40

ELEAP

ELEAP

 

ELEAP

ELEAP

12:50-13:40

APS

APS

APS

 

APS

 

14:00-14:30

 

CQ

 

 CQ 

 

14:30-15:20

CQ

CEE 

 

15:30-16:20

 

 

EEAO/CEE 

TECNOCF 

 

16:30-17:20

 

 

EEAO/CEE 

 TECNOCF 

 

17:30-18:20

 

MOSISF

GESPRO 

TECNOBC

MOSISF

18:30-19:20

 

MOSISF

 

TECNOBC

MOSISF

 

15:00-16:00

AES

 

 

 

 

16:00-17:00

AES

 

 

 

 

17:00-18:00

 

 

 

 

 

18:00-19:00

 

 

 

 

 

 

 
AULA

APS = Adquisició i processamentt del senyal, A.Pardo (ELE)

A44M

AES= Aprofitament de l'energia solar, J.Andreu (FAO), semipresencial

N06G

CEE= Circuits elèctrics i electrònics, A.Vilà (ELE)

A43M

CQ = Control de qualitat, J.M. Gómez (ELE)

A23M

EEAO = Eines d'enginyeria assistida per ordinador I i II, A.Carnicer (FAO), J.Sieiro (ELE) semipresencial

A33M

ELEAP = Electromagnetisme aplicat, E.Bertran (FAO)

A34M

FOT =Fotònica, S.Bosch (FAO)

A34M

GESPRO=Gestió de projectes, M.Villarrubia (ELE), semipresencial

A33M

INSFIS= Instrumentació física, C.Ferrater (FAO)

A44M

LAEF = Laboratori avançat d’enginyeria física, A.Lousa (FAO)

A06L

MOSISF = Modelització de sistemes físics, S.Marco, C. Serre (ELE)

A33M/A02I

SiAMI = Sensors i actuadors per a microsistemes, M.Puig, A.Pérez (ELE)

A33M

TECARELO = Tècniques de caracterització elèctrica i electro-òptica, S.Hernández (ELE)

A33M

TECMICRO= Tècniques de microscòpia, F.Peiró, J. Arbiol, S. Estrade (ELE)

A33M.

TECNOBC = Tecnologia del buit i criogènia, J.Esteve (FAO)
V13P
TECNOCF = Tecnologia de capes fines, J.L.Morenza (FAO)
V13P

TEMINANO = Tecnologia de microsistemes i nanotecnologia I, A. Cornet, A.Vilà, C.Serre (ELE)

A33M


ELE: Departament d'Electrònica
FAO: Departament de Física Aplicada i Òptica



SEMESTRE DE PRIMAVERA

Període de classes : 9-2-2009 a 22-5-2009


 

Dilluns

Dimarts

Dimecres

Dijous

Divendres

9:00-9:50

TCCF  

 

 

10:00-10:50

TCCF  

 

 

11:00-11:50

TECDIFRA 

CELMICRO

SALMIA

 

PCEE 

12:00-12:50

TECDIFRA 

CELMICRO

SALMIA

 

PCEE 

 

8:30-9:20

DE* / DiSO**

DE*/ DiSO**

DE*/ DiSO**

 

DE*/ DiSO**

11:50- 12:40

TPI***

CEE

TPI***

CEE 

TPI***

 
10:30-13:30
CEE
 

15:30-16:20

LIA
MEF
LIA
LIA

16:30-17:20

ITB
MEF
ITB
MEF
LIA

17:30-18:20

OE
CS
OE
GESPRO
MEF

18:30-19:20

OE
CS
OE
 

15:00-16:00

LAEF
DSO
DSO

16:00-17:00

LAEF
DSO
DSO

17:00-18:00

LAEF

18:00-19:00

LAEF


 
AULA
CEE = Circuits elèctrics i electrònics,F. Güell (ELE) A42G

CEMICRO = Circuits electrònics per a microsistemes, A.Diéguez (ELE)

A33M

CS = Control de sistemes I, M.Puig (ELE)

A25M

DE = Dispositius electrònics, A. Cornet (ELE), (*) Només febrer i març

A44M

DiSO = Dispositius i sistemes optoelectrònics, A.Cornet (ELE), (**) Només abril i maig

A44M

DSO = Disseny de sistemes òptics, S.Bosch (FAO)

UPC

GESPRO = Gestió de projectes, M.Villarrubia (ELE), semipresencial

 A33M

ITB = Instrumentació per a la tecnologia biomèdica I, A.Gutiérrez, M. Moreno(ELE)

A33M

LAEF= Laboratori avançat d’enginyeria física, J.Esteve (FAO)

A06L

LiA = Làser i aplicacions, S.Vallmitjana, P.Serra (FAO)

 V13P

MEF = Materials per a l’enginyeria física, C.Ferrater (FAO)

 V13P

OE = Organització d’empreses I, A. Bravo(EOE)

 A23M

PCEE = Processament de ceràmiques electròniques i estructurals, A.Cirera (ELE)

A33M

SALMIA = Sistemes d’alimentació per a microsistemes autònoms, A.Cirera, (ELE)

 A33M

TCCF = Tècniques de caracterització de capes fines, E.Bertran, J.Esteve (FAO)

V13P

TECDIFRA= Tècniques de difractometria, S. Galí (CMDM) Fac.Geo

TPI = Tècniques de processament d’imatges, A.Carnicer (FAO), (***) Només febrer i març

A35G

ELE: Departament d'Electrònica
EOE: Departament d'Economia i Organització d'Empreses
FAO: Departament de Física Aplicada i Òptica
CMDM: Departament de Cristal·lografia, Mineralogia i Dipòsits Minerals

 

 
 
Imatge de diagramació
Imatge de diagramació Imatge de diagramació Imatge de diagramació Imatge de diagramació
  © Universitat de Barcelona Edició: Departament Física Aplicada i Òpticat
Última actualització o validació:06.10.2008