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Índice
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Icona d'informació Para más información:

Dr. José-Luis Morenza
Universitat de Barcelona
Departament de Física Aplicada i Òptica
C/ Martí i Franquès 1
E-08028 Barcelona
Tel. 934 021 136
mef@ub.edu

Imatge de diagramació    
 

Horarios


SEMESTRE DE OTOÑO

Período de clases : 17-9-2008 a 19-12-2008


 

Lunes

Martes

Miércoles

Jueves

Viernes

9:00- 9:50

TEMINANO

TEMINANO

 

10:00-10:50

TEMINANO

 

TEMINANO

 

11:00-11:50

SiAMI  

 

TECARELO

 

TECMICRO

12:00-12:50

SiAMI  

TECARELO

 

TECMICRO

 

9:30-10:20

FOT

FOT

FOT

 

FOT

10:50-11:40

INSFIS/CEE

INSFIS

INSFIS/CEE

 

INSFIS

11:50-12:40

ELEAP

ELEAP

 

ELEAP

ELEAP

12:50-13:40

APS

APS

APS

 

APS

 

14:00-14:30

 

CQ

 

 CQ 

 

14:30-15:20

CQ

CEE 

 

15:30-16:20

 

 

EEAO/CEE

TECNOCF 

 

16:30-17:20

 

 

EEAO/CEE

 TECNOCF 

 

17:30-18:20

 

MOSISF

  GESPRO

TECNOBC

MOSISF

18:30-19:20

 

MOSISF

 

TECNOBC

MOSISF

 

15:00-16:00

AES

 

 

 

 

16:00-17:00

AES

 

 

 

 

17:00-18:00

 

 

 

 

 

18:00-19:00

 

 

 

 

 

 

 
AULA

APS = Adquisición y procesamiento de la señal, A.Pardo (ELE)

A44M

AES= Aprovechamiento de la energía solar, J.Andreu (FAO), semipresencial

N06G

CEE= Circuitos eléctricos y electrónicos, A.Vilà (ELE)

A43M

CQ = Control de calidad, J.M. Gómez(ELE)

A23M

EEAO = Herramientas de ingeniería asistida por ordenador I y II, A.Carnicer (FAO), J.Sieiro (ELE), semipresencial

A33M

ELEAP = Electromagnetismo aplicado, E.Bertran (FAO)

A34M

FOT = Fotónica, S.Bosch (FAO)

A34M

GESPRO= Gestión de proyectos, M.Villarrubia (ELE), semipresencial

A33M

INSFIS = Instrumentación física, C.Ferrater (FAO)

A44M

LAEF = Laboratorio avanzado de ingeniería física, A.Lousa (FAO)

A06L

MOSISF = Modelización de sistemas físicos, S.Marco, C. Serre (ELE)

A33M/A02I

SiAMI = Sensores y actuadores para microsistemas, M.Puig, A.Pérez (ELE)

A33M

TECARELO = Técnicas de caracterización eléctrica y electro-óptica, S.Hernández (ELE)

A33M

TECMICRO = Técnicas de microscopía, F.Peiró, J. Arbiol, S. Estrade (ELE)

A33M

TECNOBC = Tecnología de vacío y criogenia, J.Esteve (FAO)
V13P
TECNOCF = Tecnología de capas finas, J.L.Morenza (FAO)
V13P

TEMINANO = Tecnología de microsistemas y nanotecnología I, A. Cornet, A.Vilà, C.Serre (ELE)

A33M


ELE: Departamento de Electrónica
FAO: Departamento de Física Aplicada y Óptica



SEMESTRE DE PRIMAVERA

Período de clases : 9-2-2009 a 22-5-2009


 

Lunes

Martes

Miércoles

Jueves

Viernes

9:00-9:50

TCCF  

 

 

10:00-10:50

TCCF  

 

 

11:00-11:50

TECDIFRA 

CELMICRO

SALMIA

 

PCEE 

12:00-12:50

TECDIFRA

CELMICRO

SALMIA

 

PCEE 

 

8:30-9:20

DE* / DISO**

DE*/ DISO**

DE*/ DISO**

 

DE*/ DISO**

11:50- 12:40

TPI***

CEE

TPI***

  CEE

TPI***

 
10:30-13.30
   
CEE
   
           

15:30-16:20

LIA
MEF
LIA
LIA

16:30-17:20

ITB
MEF
ITB
MEF
LIA

17:30-18:20

OE
CS
OE
GESPRO
MEF

18:30-19:20

OE
CS
OE
 

15:00-16:00

LAEF
DSO
DSO

16:00-17:00

LAEF
DSO
DSO

17:00-18:00

LAEF

18:00-19:00

LAEF


 
AULA
CEE= Circuitos eléctricos y eléctronicos, F. Güell (ELE) A42G

CEMICRO = Circuitos electrónicos para microsistemas, A.Diéguez (ELE)

A33M

CS = Control de sistemas I, M.Puig (ELE)

A25M

DE = Dispositivos electrónicos, A. Cornet (ELE), (*) Sólo febrero y marzo

A44M

DiSO = Dispositivos y sistemas optoelectrónicos, A. Cornet (ELE), (**) Sólo abril y mayo

A44M

DSO = Diseño de sistemas ópticos, S.Bosch (FAO)

UPC

GESPRO = Gestión de proyectos, M.Villarrubia (ELE), semipresencial

 A33M

ITB = Instrumentación para la tecnología biomédica I, A. Gutiérrez, M.Moreno (ELE)

A33M

LAEF(FA) = Laboratorio avanzado de ingeniería física, J.Esteve (FAO)

A06L

LiA = Láser y aplicaciones, S.Vallmitjana, P.Serra (FAO)

 V13P

MEF = Materiales para la ingeniería física, C.Ferrater (FAO)

 V13P

OE = Organización de empresas I, A. Bravo(EOE)

 A23M

PCEE = Procesamiento de cerámicas electrónicas y estructurales, A.Cirera (ELE)

A33M

SALMIA = Sistemas de alimentación para microsistemas autónomos, A.Cirera (ELE)

 A33M

TCCF = Técnicas de caracterización de capas finas, E.Bertran, J.Esteve (FAO)

V13P

TECDIFRA= Técnicas de difractometría, S. Galí (CMDM) Fac.Geo

TPI = Técnicas de procesamiento de imágenes, A.Carnicer (FAO), (***) Sólo febrero y marzo

A35G

CMDM: Departamento de Cristalografía, Mineralogía y Depósitos Minerales
ELE: Departamento de Electrónica
EOE: Departamento de Economía y Organización de Empresas
FAO: Departamento de Física Aplicada y Óptica

 

 
Imatge de diagramació
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Última actualització o validació:06.10.2008