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Horarios
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SEMESTRE DE OTOÑO
Período de clases : 16-9-2009 a 22-12-2009
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Lunes |
Martes |
Miércoles |
Jueves |
Viernes |
9:00- 9:50
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TEMINANO
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TEMINANO
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10:00-10:50
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TEMINANO
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TEMINANO
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11:00-11:50
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SiAMI
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TECMICRO
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12:00-12:50
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SiAMI
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TECMICRO
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9:30-10:20
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FOT
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FOT
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FOT
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FOT
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10:50-11:40 |
INSFIS/CEE |
INSFIS |
INSFIS/CEE |
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INSFIS |
11:50-12:40
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ELEAP |
ELEAP |
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ELEAP |
ELEAP |
12:50-13:40
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APS
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APS
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APS
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APS
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14:00-14:30 |
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CQ |
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CQ
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14:30-15:20 |
CQ |
CEE
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15:30-16:20
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EEAO/CEE |
TECNOCF
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16:30-17:20
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EEAO/CEE |
TECNOCF
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17:30-18:20
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MOSISF |
GESPRO |
TECNOBC |
MOSISF
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18:30-19:20 |
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MOSISF |
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TECNOBC |
MOSISF |
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15:00-16:00 |
AES |
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16:00-17:00 |
AES |
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17:00-18:00 |
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18:00-19:00 |
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AULA |
APS
= Adquisición y procesamiento de la
señal, A.Pardo (ELE) |
A44M |
AES=
Aprovechamiento de la energía solar, J.Andreu
(FAO), semipresencial |
N06G |
CEE=
Circuitos eléctricos y electrónicos, A.Vilà
(ELE) |
A43M |
CQ
= Control de calidad, J.M. Gómez(ELE) |
A23M |
EEAO
= Herramientas de ingeniería asistida
por ordenador I y II, A.Carnicer (FAO), J.Sieiro (ELE),
semipresencial |
A33M |
ELEAP
= Electromagnetismo aplicado, E.Bertran (FAO) |
A34M |
FOT
= Fotónica, S.Bosch (FAO) |
A34M |
GESPRO=
Gestión de proyectos, M.Villarrubia (ELE), semipresencial |
A33M |
INSFIS
= Instrumentación física, C.Ferrater
(FAO) |
A44M |
MOSISF
= Modelización de sistemas físicos, S.Marco,
C. Serre (ELE) |
A33M/A02I |
SiAMI
= Sensores y actuadores para microsistemas,
M.Puig, A.Pérez (ELE) |
A33M |
TECMICRO
= Técnicas de microscopía, F.Peiró,
J. Arbiol, S. Estrade (ELE) |
A33M |
| TECNOBC =
Tecnología de vacío y criogenia, J.Esteve
(FAO) |
V13P |
| TECNOCF =
Tecnología de capas finas, J.L.Morenza (FAO) |
V13P |
TEMINANO
= Tecnología de microsistemas y nanotecnología
I, A. Cornet, A.Vilà, C.Serre (ELE) |
A33M |
ELE: Departamento de Electrónica
FAO: Departamento de Física Aplicada y Óptica
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SEMESTRE DE PRIMAVERA
Período de clases : 15-2-2010 a 27-5-2010
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Lunes |
Martes |
Miércoles |
Jueves |
Viernes |
9:00-9:50 |
TCCF
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AS |
10:00-10:50 |
TCCF
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AS |
11:00-11:50 |
TECDIFRA
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CELMICRO |
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12:00-12:50
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TECDIFRA |
CELMICRO |
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8:30-9:20
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DE*
/ DISO** |
DE*/
DISO** |
DE*/
DISO** |
|
DE*/
DISO** |
11:50-
12:40 |
TPI*** |
CEE |
TPI*** |
CEE |
TPI*** |
| |
10:30-13.30 |
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|
CEE |
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15:30-16:20
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LIA |
MEF |
LIA |
LIA |
16:30-17:20
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ITB |
MEF |
ITB |
MEF |
LIA |
17:30-18:20
|
OE
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|
OE |
GESPRO |
MEF |
18:30-19:20 |
OE |
|
OE |
CS |
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19:30-20:20 |
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|
CS |
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15:00-16:00 |
LAEF |
DSO |
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DSO |
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16:00-17:00 |
LAEF |
DSO |
|
DSO |
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17:00-18:00 |
LAEF |
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18:00-19:00 |
LAEF |
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AULA |
| AS=
Análisis de superfícies, A. Cornet, A. Pérez
(ELE) |
325 |
| CEE=
Circuitos eléctricos y eléctronicos, F.
Güell (ELE) |
A42G |
CEMICRO
= Circuitos electrónicos para microsistemas,
A.Diéguez (ELE) |
A33M |
CS
= Control de sistemas I, M.Puig (ELE) |
A25M |
DE
= Dispositivos electrónicos, A. Cornet (ELE),
(*) Sólo febrero y marzo |
A44M |
DiSO
= Dispositivos y sistemas optoelectrónicos, A.
Cornet (ELE), (**) Sólo abril y mayo |
A44M |
DSO
= Diseño de sistemas ópticos, S.Bosch
(FAO) |
UPC |
GESPRO
= Gestión de proyectos, M.Villarrubia
(ELE), semipresencial |
A33M |
ITB
= Instrumentación para la tecnología
biomédica I, A. Gutiérrez, M.Moreno (ELE) |
A33M |
LAEF(FA)
= Laboratorio avanzado de ingeniería
física, J.Esteve (FAO) |
A06L |
LiA
= Láser y aplicaciones, S.Vallmitjana,
P.Serra (FAO) |
V13P
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MEF
= Materiales para la ingeniería física,
C.Ferrater (FAO) |
V13P |
OE
= Organización de empresas I, A. Bravo(EOE) |
A23M
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TCCF
= Técnicas de caracterización
de capas finas, E.Bertran, J.Esteve (FAO) |
V13P |
| TECDIFRA=
Técnicas de difractometría, S. Galí
(CMDM) |
Fac.Geo |
TPI
= Técnicas de procesamiento de imágenes,
A.Carnicer (FAO), (***) Sólo febrero y marzo |
A35G |
CMDM: Departamento de Cristalografía, Mineralogía
y Depósitos Minerales
ELE: Departamento de Electrónica
EOE: Departamento de Economía y Organización
de Empresas
FAO: Departamento de Física Aplicada y Óptica
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