Infraestructuras de soporte

Tecnologies de Materials

Anàlisi de superfícies (ESCA / Auger),

Difracció de raigs X,

Espectrometria de Masses d'Ions Secundaris (SIMS)

Mecànica, electrònica i de buit

MET aplicada a materials

Microscòpia de sonda pròxima (AFM, STM) i interferometria-confocal

Microscòpia electrònica de rastreig

Microsonda electrònica

Paleomagnetisme

Superfície específica BET i porosimetria

Sala Blanca

Sala Anacoica

Laboratori de prototips